首页|产品中心
English
新品发布:电磁干扰去耦夹 EMID 1M
作者:  日期:2020-05-27  浏览次数:361次  来源:
分享到:

产品介绍

      EMID 1M电磁干扰去耦夹用于电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(GB/T 17626.4、IEC 61000-4-4)中的干扰信号去耦,可以将瞬变脉冲群信号衰减20 dB以上。也可用于1 MHz以上干扰信号的衰减,衰减系数大于10 dB(与信号频率有关)。本产品采用卡扣式结构,可以直接套在待去耦的线缆上,使用方便。同时去耦夹还具有与去耦线缆物理隔离的特点。

附图:EMID 1M电磁干扰去耦夹衰减系数测试原理框图


更多产品信息请点击:电磁干扰去耦夹EMID 1M,欢迎来访!


上一篇:新品发布:非屏蔽不对称通信线雷击浪涌耦合...
下一篇:新品发布:感应信号敏感度试验系统 ISS...
·防火灾需警钟长鸣 --3cte...
·3ctest诚邀您参加2020...
·2020慕尼黑上海电子展(el...
----------------------------
·探讨电磁干扰的危害与电磁兼容技...
·IEC61000-4-5:20...
·新能源汽车线束布置方案及EMC...
----------------------------
·新品发布:人工电源网络 LIS...
·新品发布:阻抗匹配网络 LIS...
·新品发布:电流注入钳 BCIP...
----------------------------
·泰思特2018年展会信息一览表...
·泰思特2017年展会信息一览表...
·泰思特2016年展会信息一览表...
----------------------------