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行业动态/NEWS

FCC发布引用测试数据的法规-draft KDB ...2017.01.10

2016年12月8日FCC发布了draft版本的KDB 484596 D01,允许独立产品授权认证申请时引用数据, 此KDB适用于设计和内部印刷电路相同的产品申请不同的FCC ID时的情形。1. 引用数据的报告

EN 300328 V2.1.1正式版本发布及差异...2017.01.09

新版的EN 300 328 V2.1.1 (2016-11)在十一月份公布,生效时间定义在2017/8/31,强制时间为2018/8/31,主要与前一版V1.9.1的差异在于:1、法规版本对应指令不同: V1.9.1为R&TTE (1995/5/EC)/

低压熔断器产品强制性认证执行新版标准...2017.01.06

低压熔断器产品强制性认证依据的标准GB 13539.1-2015《低压熔断器 第1部分:基本要求》已于2015年9月11日发布,2016年10月1日实施;GB/T 13539.2-2015《低压熔断器 第2部分:专职人员

低压成套开关设备CCC认证实施细则修订...2017.01.05

2013年5月31日,CQC按照国家认监委相关公告要求,发布并实施了《强制性产品认证实施细则 低压成套开关设备》(CQC-C010-2013,以下简称《细则》),《细则》于2014年9月1日进行

CISPR 16-1-5:2014+AMD1:20...2017.01.03

CISPR 16-1-5:2014+A1:2016 specifies the requirements for calibration sites in the frequency range 5 MHz to 18 GHz used to perform antenna calibrations according to CISPR 16-1-6.

减小ESD影响的附加保护措施...2016.12.30

有很多办法减小ESD产生的EMI影响:完全阻止ESD的产生,阻止EMI耦合到电路或设备以及通过设计工艺增加设备固有的抗骚扰性。为了避免设备功能失效,可以例如将计算机锁定,将包含集成电路

静电放电产生的电磁骚扰...2016.12.29

静电放电一般用ESD表示,它会导致电子设备严重的损坏或操作失常。半导体专家以及设备的用户都在想办法抑制ESD,ESD能量的传播有两种方式:放电电流通过导体传播或激励一定频谱宽度

雷害形式-直击雷与感应雷...2016.12.28

每次雷电的产生其实是大量的正和负电离子互相中和时的放电现象,这种现象可以投过云层内部,云块与云块之间,云块与空气,云块与大地的瞬间放电中和形式,当然以直接雷的破坏性而言,莫过于云块

器件、软件与EMC2016.12.26

众所周知,电路由器件构成,但是器件的EMC性能往往被忽略掉。所以在设计产品电路时,考虑器件的EMC性能还是比较重要的。例如一个抗干扰能力较强的CPU芯片,由于本身就能抵抗一些

PCB设计介绍2016.12.23

PCB是EMC技术中最值得探讨的部分,是设备工作频率最高的部分,同时,往往也是电平最低、最为敏感的部分。在PCB的EMC设计中,实际上已经包含了接地设计、去耦旁路设计等。一个有着良好

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