脉冲电流注入试验系统

3CEMP-PCI-xxx 系列

EMP-PCI系列脉冲电流注入试验系统模拟电磁脉冲环境中的天线和电缆可感应产生大电流和高电压，电磁脉冲能量作用在电子系统上，在器件与电路中产生脉冲大电流与高电压，会引起工作状态干扰与功能损坏。

破坏主要是针对半导体器件与集成电路芯片，干扰脉冲会引起存储器数据丢失，传输数据出错，设备功能紊乱，误触发，设备工作性能降低、重新启动，以及暂时停止工作等问题。能量太高时，产生功能损坏，包括部件或回路间的高压电击穿、半导体 PN 结或器件烧毁、氧化层介质击穿、集成电路烧毁，造成永久性的物理损伤，以避免电子设备遭受电磁脉冲扰动或损环。

波形图、回路图

试验系统构成框图

>   波形为标准双指数波，符合标准；

>   电流20A-5kA连续可调，动态范围100倍；

>   波形重复性好，连续10发次峰值抖动不超过5%；

>   无油化设计，更轻便，易维护；

>   一体化的模块机柜式设计，占用空间小，试验方便；

>   以太网、RJ45接口，用于PC远程控制、打印测试报告。